Medus

ТОВ "МЕДУС"

Мобільне електро вимірювальне діагностичне устаткування та системи
ukrtelecom icon +38 044 257 07 42
ukrtelecom icon +38 044 596 57 31
mts icon +38 095 354 19 61
E-mail: office@medus.com.ua



Профилометрия



Высокоточные топографические измерительные системы Polytec серии TMS TopMap - это современные и супертехнологичные интерферометры белого света для бесконтактного измерения профиля поверхности.

Имея широкий диапазон сканирования по высоте и нанометрическое разрешение, они являются идеальным инструментом для количественного определения гладкости / шероховатости поверхности, перепадов высот и параллельности протяженных поверхностей и конструкций, включая мягкие материалы. 

Измерение свойств поверхности является необходимым во многих отраслях промышленности. Компоненты и конструкции размерностью от долей миллиметров до нескольких сантиметров можно найти в производстве микроэлектроники и систем хранения данных,  микромеханизмов и микродатчиков, в разработке и производстве автомобильных компонентов и микроспутников.
В данном разделе вы найдете информацию о различных профилометрах белого света серии TMS TopMap, находящих свое применение как в производственном контроле качества, так и в исследовательских задачах. Дополнительно, мы включили разделы где рассказывается об общих принципах работы профилометров и их прикладном применении.

Интерферометры белого света

Топографические измерительные системы Polytec основаны на принципе интерференции белого света. Они позволяют выполнять измерения плоскостности и исследования топографии зеркальных и грубых поверхностей бесконечных объектов с разрешением до 1 нм в направлении оси z .При больших динамических диапазонах по оси z измерения плоскостности, волнистости и параллельности выполняются проще, чем традиционными способами, например при сравнении верхней и нижней поверхностей глухого отверстия. Классические параметры поверхностей, в настоящее время измеряемые с помощью контактных зондов, также можно легко исследовать с применением систем TopMap .Программное обеспечение TMS Software также имеет возможность анализа 3- D изображений, имеется драйвер LabView для легкой интеграции в существующее программное окружение и возможности экспорта всех данных в формат ASCII . Измерения на поверхности необходимы во многих отраслях. Узнайте о различных способах применения интерферометров белого света Polytec .

 
TMS-100 TopMap Metro.Lab
TopMap Metro . Lab - высокопрецизионная бесконтактная система доступной стоимости для измерения топографии с широким полем обзора и большим динамическим диапазоном по оси z , разработана для исследования плоских и изогнутых поверхностей. The Metro . Lab способна измерять плоскостность и общую топографию с разрешением 20 нм и определять параллельность двух или более поверхностей, разнесенных на расстояние до 70 мм.
 
TMS-300/320 TopMap In.Line
Компактный промышленный интерферометр TopMapIn.Lineлегко встраивается в производственные линии и
быстроконтролирует плоскостность и топографиюизготавливаемыхдеталей .
На изображениях могут быть отображены неровности поверхности (по оси z ) высотой 40 нм и менее.
Имеется набор образцов размерами от прямоугольных 4,2 x 5,5 мм до круглых диаметром 19 мм.
 
TMS-600 TopMap Pro.Lab
TopMap Pro . Lab предлагает максимальную гибкость и точность для лабораторных измерений на поверхностях при контроле их качества. Вертикальное разрешение в нанометрах, интеллектуальный фильтр системы и программного обеспечения позволяют выполнять измерения на любых поверхностях - от чрезвычайно грубых до гладких полированных. Система создает 3- D изображения с высоким разрешением поверхности с размерами примерно 30 x 40 мм.
 
 
TMS-1200 TopMap m.Lab
Система TopMap µ. Lab устанавливает стандарт высокопрецизионных бесконтактных топографических измерений с высоким пространственным разрешением с применением микроскопа. Она специально разработана для микро-топографических исследований функциональных поверхностей и микроструктур. Используя сканирующий интерферометр белого света, µ. Lab способна быс

 TMS Software

Простое в применении программное обеспечение сбора и анализа данных для топографических измерительных системPolytec , а также для MSA -400 с опцией Topography . Программа содержит все необходимые команды для управления оборудованием, сбора данных, их анализа и отображения. Выдающиеся возможности 2- D и 3- D -представления данных дополняют алгоритмы вырезки профиля и фильтрации.

Измерение и оценка качества профиля поверхности требуется практически во всех отраслях промышленности. Компоненты и конструкции размером от долей миллиметров до нескольких сантиметров можно найти в микроэлектронике, производстве приводов и носителей информации, в разработке микроэлектромеханических, микрооптических устройств и датчиков, в автомобильной промышленности.

Рабочие поверхности

Для рабочих поверхностей с жесткими допусками требуются высокпрецизионные системы измерения, которые быстро регистрируют топографию поверхности. С помощью интерферометрии белого света можно выполнять измерения в вертикальном направлении с точностью несколько нанометров и выше.

Плоскостность донных поверхностей глухих отверстий

Контроль донных поверхностей глухих отверстий на плоскостность и параллельность относительно наружной поверхности затруднен для отверстий с большим удлинением (большая длина, малый диаметр). TopMap Pro . Lab может выполнять такие измерения для отверстий до 50 мм в глубину, аTopMap Metro . Lab легко справляется с измерениями на отверстиях глубиной до 70 мм. 

Измерения поверхности в производстве

Такое свойство поверхности, как шероховатость – очень важный показатель качества.   Сквозной контроль качества легко реализуется применением интерферометров белого света TopMap . Измерения выполняются быстро, полностью автоматизированы, также как анализ и передача результатов в программное обеспечение управления процессами.

 
Контроль качества компонентов жестких дисков

Производители различных компонентов жестких дисков, например подшипников скольжения, валов, сборок дисков используют системы TopMap для контроля качества. Особенно интересует качество гидродинамических подшипников.

Топография лазерных микросхем

В целях контроля качества необходимо измерение полной топографии лазерных микросхем. Эта задача может быть легко решена с помощью интерферометра белого света Polytec TopMap . Каждая точка имеет координаты x , y и z , что дает очень гибкое решение задачи.

Плоскостность полимерных пленок

Топографию прозрачных полимерных пленок можно исследовать с помощью системы TMS -600 TopMap Pro . Lab . Амплитуда волн имеет порядок сотен нанометров. Такие измерения можно проводить для контроля качество при производстве пленок.

TopMap Application Notes

В Application Notesописываются примеры применения оптических систем Polytec в различных отраслях, таких как, производство полупроводников и устройств хранения данных, микроструктуры и датчики, инженерные исследования и транспорт. Application Notes можно загрузить с официального сайта Polytec .